Linewidth Analyzer 波长计
产品描述
Linewidth Analyzer测量，分析和控制窄激光源的频率噪声和线形的多功能仪器
产品整体参数
产品技术性说明：
HighFinesse线宽分析仪（LWA）是一款用途广泛，坚固耐用的紧凑型仪器，用于测量，分析和控制激光器的频率和强度噪声。这使它们成为实时精确表征激光的理想型设备。
通过将干涉测量工作原理与高端光学和电子组件相结合，可以实现出色的灵敏度。基于随时间变化的频率偏差的测量，可以计算出频率噪声密度谱，评估低至350 Hz的内部的（洛伦兹）线宽和有效（光学）线宽以及相对强度噪声（RIN）的光学线形。通过进一步分析，可以获取许多额外的量。LWA的无偏测量原理优于光学延迟线技术，因为由于技术固有的信息丢失，后者依赖于非平凡的评估需求。 LWA还允许使用PID控制来减少激光器的线宽。
LWA-1k产品系列是用于测量非常低线宽的仪器。LWA-100k产品系列可在非常大的波长范围内进行精确的线宽测量。
产品列表
|
|
LWA-1k 780 |
LWA-1k 1550 |
LWA-100k NIR |
LWA-100k VIS |
|
Wavelength Ranges [nm] |
760 - 1064 |
1530 - 1565 |
1064 - 1625 |
|
|
Noise floor [Hz/√Hz] |
25 - 500 |
5 - 100 |
25 - 1000 |
|
|
Frequency Noise Bandwidth |
10 Hz - 10 MHz |
10 Hz - 10 MHz |
25 Hz - 10 MHz |
|
|
Intrinsic linewidth range |
< 8 Hz |
< 350 Hz |
< 2 kHz |
|
|
Effective linewidth range |
< 10 kHz - 20 MHz |
< 1 kHz - 20 MHz |
< 10 kHz - 20 MHz |
|
* LWA-1k Series
• frequency noise density:50 Hz – 10 MHz
• optical & Lorentzian linewidth: 350 Hz – 20 MHz
• narrowing linewidth PID control
• based on frequency discriminator (interferometer)
** LWA-100k Series
• frequency noise density: 25 Hz – 10 MHz
• optical & Lorentzian linewidth: 2 kHz – 20 MHz
• narrowing linewidth PID control
• based on frequency discriminator (interferometer)
• based on frequency discriminator (interferometer)
